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用數(shù)字萬用表測量MOS管好壞及引腳的方法:以N溝道MOS場效應(yīng)管為例 。
一、先確定MOS管的引腳:
1 、先對MOS管放電,將三個腳短路即可;
1、首先找出場效應(yīng)管的D極(漏極)。對于TO-252、TO-220這類封裝的帶有散熱片的場效應(yīng)管 ,它們的散熱片在內(nèi)部是與管子的D極相連的,故我們可用數(shù)字萬用表的二極管檔測量管子的各個引腳,哪個引腳與散熱片相連 ,哪個引腳就是D極。
2 、找到D極后,將萬用表調(diào)至二極管檔;
3、用黑表筆接觸管子的D極,用紅表筆分別接觸管子的另外兩個引腳 。若接觸到某個引腳時 ,萬用表顯示的讀數(shù)為一個硅二極管的正向壓降,那么該引腳即為S極(源極),剩下的那個引腳即為G極(柵極)。
二、MOS管好壞的測量:
1 、當(dāng)把紅表筆放在S極上 ,黑表筆放在D極上,可以測出來這個導(dǎo)通壓降,一般在0.5V左右為正常;
2、G腳測量,需要先對G極充下電 ,把紅表筆放在G極,黑表筆放在S極;
3、再次把紅表檔行純筆放在S極上,黑表筆放在D極上 ,可以測出來這個放大壓降,一般在0.3V左右為正常;
擴展資料
MOS管的主要參數(shù)
1 、開啟電壓VT
開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極S和漏極D之間開始形成導(dǎo)電溝道所需的柵極電壓;
標(biāo)準(zhǔn)的N溝道MOS管,VT約為3~6V;通過工藝上的改進 ,可以使MOS管的VT值降到2~3V。
2、直流輸入電阻RAH
即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比
這一特性有時以流過柵極的柵流表示
MOS管的RAH 可以很容易地超過1010Ω 。
3.、漏源擊穿電壓BVDS
在VAH =0(增強型)的條件下,在增加漏源電壓過程中使ID開始劇增時的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS
ID劇增的原因有下列兩個方面:
(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿;
(2)漏源極間的穿通擊穿;
有些MOS管中,其溝道長度較短 ,不斷增加VDS會使漏區(qū)的耗盡層一直擴展到源區(qū),使溝道長度為零,即產(chǎn)生漏源間的穿通 ,穿通后,源區(qū)中的多數(shù)載流子,將直接受耗盡層電場的吸引,到達漏區(qū) ,產(chǎn)生大的ID。
4、柵源擊穿電壓BVAH
在增加?xùn)旁措妷哼^程中,使柵極電流IG由零開始劇增時的VAH ,稱為柵源擊穿電壓BVAH 。
5 、低頻跨導(dǎo)gm
在VDS為某一固定數(shù)值的條件下 ,漏極電流的微變量和引起這個變化的柵源電壓微變量之比稱為跨導(dǎo);
gm反映了柵源電行咐壓對漏極電流的控制能力,是表征MOS管放大能力的一個重要參數(shù)
一般在十分之幾至幾mA/V的范圍內(nèi)
6、導(dǎo)通電阻RON
導(dǎo)通電阻RON說明帶姿了VDS對ID的影響,是漏極特性某一點切線的斜率的倒數(shù)
在飽和區(qū) ,ID幾乎不隨VDS改變,RON的數(shù)值很大,一般在幾十千歐到幾百千歐之間
由于在數(shù)字電路中 ,MOS管導(dǎo)通時經(jīng)常工作在VDS=0的狀態(tài)下,所以這時的導(dǎo)通電阻RON可用原點的RON來近似
·對一般的MOS管而言,RON的數(shù)值在幾百歐以內(nèi)
7、極間電容
三個電極之間都存在著極間電容:柵源電容CAH 、柵漏電容CGD和漏源電容CDS
CAH 和CGD約為1~3pF ,CDS約在0.1~1pF之間
8、低頻噪聲系數(shù)NF
噪聲是由管子內(nèi)部載流子運動的不規(guī)則性所引起的 ?!び捎谒拇嬖?,就使一個放大器即便在沒有信號輸人時,在輸出端也出現(xiàn)不規(guī)則的電壓或電流變化
噪聲性能的大小通常用噪聲系數(shù)NF來表示,它的單位為分貝(dB)。這個數(shù)值越小 ,代表管子所產(chǎn)生的噪聲越小
低頻噪聲系數(shù)是在低頻范圍內(nèi)測出的噪聲系數(shù)
場效應(yīng)管的噪聲系數(shù)約為幾個分貝,它比雙極性三極管的要小
以N溝道MOS場效應(yīng)管5N60C為例,來詳細介紹一下具體的測量方法。
1.N溝道MOS場效應(yīng)管好壞的測量方法
2.用數(shù)字萬用表二極管檔正向測量5N60C的D-S兩極。
測量5N60C好壞時 ,首先將萬用表量程開關(guān)調(diào)至二極管檔,將5N60C的G極懸空,用紅黑表筆分別接觸5N60C的D-S兩極 ,若是好的管子,萬用表顯示為“OL”,即溢出(見上圖) 。
3.用數(shù)字萬用表二極管檔反向測量5N60C的D-S兩極。
然后調(diào)換紅黑表筆 ,再去測量D-S兩極,則萬用表顯示的讀數(shù)為一個硅二極管的正向壓降(見上圖)。
若MOS場效應(yīng)管內(nèi)部D-S兩極之間的寄生二極管擊穿損壞,用二極管檔測量時 ,萬用表顯示的讀數(shù)接近于零 。
4.用萬用表的二極管檔給5N60C柵源兩極(G-S兩極)之間的電容充電。對于N溝道MOS場效應(yīng)管充電時,紅表筆應(yīng)接管子的G極,黑表筆接管子的S極。
在測量完5N60C的D-S兩極,并且確實是好的之后 ,然后用二極管檔給MOS場效應(yīng)管的柵源兩極之間的電容充電 。
由于MOS場效應(yīng)管的簡裂前輸入電阻在GΩ級(GΩ讀作吉歐,1GΩ=1000MΩ),數(shù)字萬用表二極管檔的開路測量電壓約為2.8~3V ,故用二極管檔的測量電壓給MOS場效應(yīng)管的柵源兩極之間的電容充電后,可以使MOS場效應(yīng)管D-S兩極之間的電阻變得很小,故用這個方法可以測量場效應(yīng)管G-S兩極之間是否損壞。
5.5N60C的G-S兩極間的電容充電后 ,用電阻檔實測D-S兩極之間的正向電阻為155.4Ω。
6.用萬用表電阻檔實測5N60C的D-S兩極之間的反向電阻為67.2Ω 。
上面為一個好的N溝道MOS場效應(yīng)管的測量數(shù)據(jù)。對于P溝道MOS場效應(yīng)管的測量方法與上述測量一樣,只是萬用表表筆需要調(diào)換一下極性。
擴展資料:
mos管是金屬(metal)—氧化物(oxide)—半導(dǎo)體(semiconductor)場效應(yīng)晶體管,或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體 。MOS管的source和drain是可以對調(diào)的 ,他們都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。在多數(shù)情況下,這個兩個區(qū)是一樣的,即使兩端對調(diào)也不會影響器件的性能。這樣的器件被認(rèn)為是對稱的。
場效應(yīng)管(FET) ,把輸入電壓的變化轉(zhuǎn)化為輸出電流的變化 。FET的增益等于它的transconductance, 定義為輸出電流的變化和輸入電壓變化之比。市面上常有攔清的一般為N溝道和P溝道,詳情參考右側(cè)圖片(N溝道耗盡型MOS管)。而P溝道常見的為低壓mos管 。
場效應(yīng)管通過投影一個電場在一個絕緣層上來影響流過晶體管的電流。事實上沒有電流流過這個絕緣體,所以FET管的GATE電流非常小。
最普通的FET用一薄層二氧化硅來作為GATE極下的絕緣體 。這種晶體管稱為金屬氧化物半導(dǎo)體(MOS)晶體管 ,或,金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管(MOSFET)。因為MOS管更小更省電,所以他們已經(jīng)在很多應(yīng)用場合取代了雙極源春型晶體管。
用萬能表檢測mos管好壞的方法:
將萬用表兩個表筆分別搭接在其他兩個極:給B極與任意一個極接一個10千歐姆電阻,電阻先不要接上 ,把表筆分別放在兩級,電阻這時再接觸,指針擺動越大證明該管拆兆敗子放大系數(shù)就越大 ,也就是說該管子就越好,反之越差 。
接電阻的那一端為C極;若是紅表筆為P管,黑表筆旅顫為N管。凡是不符合以上測量數(shù)據(jù)的三極管都是壞的。
萬用表的相關(guān)要求規(guī)定:
1、指針表讀取精度較差 ,但指針擺動的過程比較直觀,其擺動速度幅度有時也能比較客觀地反映了被測量的大?。ū热鐪y電視機數(shù)據(jù)總線(SDL)在傳送數(shù)據(jù)時的輕微抖動);數(shù)字表讀數(shù)直觀,但數(shù)字變化的過程看起來很雜亂 ,不太容易觀猜絕看 。
2 、數(shù)字萬用表的準(zhǔn)確度是測量結(jié)果中系統(tǒng)誤差與隨機誤差的綜合。它表示測量值與真值的一致程度,也反映測量誤差的大小。一般講準(zhǔn)確度愈高,測量誤差就愈小,反之亦然。
3、指針表內(nèi)一般有兩塊電池 ,一塊低電壓的1.5V,一塊是高電壓的9V或15V,其黑表筆相對紅表筆來說是正端 。數(shù)字表則常用一塊6V或9V的電池。在電阻檔,指針表的表筆輸出電流相對數(shù)字表來說要大很多,用R×1Ω檔可以使揚聲器發(fā)出響亮的“噠 ”聲 ,用R×10kΩ檔甚至可以點亮發(fā)光二極管。
如何測量mos管好壞的介紹就聊到這里吧,感謝你花時間閱讀本站內(nèi)容,更多關(guān)于mos管測量好壞視頻、如何測量mos管好壞的信息別忘了在本站進行查找喔 。
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